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產(chǎn)品名稱：場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品型號(hào)：Sigma 360

產(chǎn)品品牌：Zeiss 蔡司

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服務(wù)承諾：真實(shí)描述正品銷售售后保障

產(chǎn)品詳情

Sigma 360 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）

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蔡司Sigma系列產(chǎn)品集場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)于一體，可輕松實(shí)現(xiàn)成像和分析程序，提高工作效率。您可以將其用于新材料和顆粒的質(zhì)量監(jiān)測(cè)，或用于生物和地質(zhì)樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓，在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)可執(zhí)行高級(jí)顯微分析，以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。

使用Sigma系列，暢游高端納米分析世界。

●　Sigma 360 — 一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測(cè)試平臺(tái)的理想之選。

●　Sigma 560 — 采用先進(jìn)的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可提供高通量分析，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)。

直觀成像工作流為您指引方向

從設(shè)置到獲取基于人工智能的結(jié)果，每一步都清晰明了

★ 即使您是新手用戶，也能輕松獲得專業(yè)結(jié)果。Sigma系列可迅速獲取圖像，易于學(xué)習(xí)和使用的工作流程可節(jié)省培訓(xùn)時(shí)間，簡(jiǎn)化從導(dǎo)航到后期處理的每個(gè)步驟，讓您如虎添翼。

★ 蔡司SmartSEM Touch中的軟件自動(dòng)化可助您完成導(dǎo)航、參數(shù)設(shè)置和圖像采集等步驟。

★ 接下來(lái)，ZEN core便可大顯身手：它配備針對(duì)具體任務(wù)的工具包，適用于后期處理。我們十分推薦基于機(jī)器學(xué)習(xí)的人工智能工具包，它可助您進(jìn)行圖像分割，將多模式實(shí)驗(yàn)與Connect Toolkit相結(jié)合，此外，Materials應(yīng)用程序還能分析微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸或涂層厚度。

可在1 kV和更低電壓條件下分辨差異

增強(qiáng)的分辨率，優(yōu)化的襯度

★ 光學(xué)鏡筒是成像和分析性能的關(guān)鍵。Sigma配備蔡司Gemini 1電子光學(xué)系統(tǒng)，可對(duì)任何樣品提供出色的成像分辨率，尤其是在低電壓條件下。

★ Sigma 360的低電壓分辨率目前規(guī)定500 V時(shí)為1.9nm。通過(guò)減少色差影響，已實(shí)現(xiàn)將1 kV 的分辨率提高10% 以上。

★ 現(xiàn)在成像比以往任何時(shí)候都輕松，無(wú)論是要求嚴(yán)苛的樣品，還是在可變壓力（VP）模式下采用背散射探測(cè)。

可在極端條件下完成可變壓力成像

用于分析和成像的NanoVP lite模式

★ 全新的?NanoVP lite模式和探測(cè)器可輕松在低于5 kV的條件下從絕緣材料中獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)。 ★ 這樣就可增強(qiáng)成像和X射線能譜分析的性能，提供更多表面敏感信息，縮短采集時(shí)間，增強(qiáng)入射電子束流，提高能譜面分布速度。 ★ aBSD1（環(huán)形背散射電子探測(cè)器）或新一代C2D（級(jí)聯(lián)電流）探測(cè)器可確保在低電壓條件下采集到出色圖像。

● 技術(shù)

Gemini光學(xué)鏡筒截面示意圖，包含電子束推進(jìn)器、Inlens探測(cè)器和Gemini物鏡。

Gemini 1的光學(xué)系統(tǒng)

Gemini 1的光學(xué)系統(tǒng)由三個(gè)元件組成：物鏡、電子束推進(jìn)器和具有Inlens探測(cè)原理的探測(cè)器。其中，物鏡的設(shè)計(jì)將靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)的作用力相結(jié)合，大大優(yōu)化光學(xué)性能的同時(shí)，降低了樣品所處的場(chǎng)影響。如此也可實(shí)現(xiàn)對(duì)磁性材料等具有挑戰(zhàn)性的樣品的高品質(zhì)成像。Inlens探測(cè)原理通過(guò)對(duì)二次電子（SE）和/或背散射電子（BSE）的探測(cè)來(lái)確保高效的信號(hào)檢測(cè)，同時(shí)大幅縮短獲取圖像的時(shí)間。電子束推進(jìn)器保證了小尺寸的電子束斑和高信噪比。

Sigma的Gemini 1光學(xué)鏡筒與探測(cè)器。1 Inlens探測(cè)器，SE或Duo。2 ETSE探測(cè)器、3 VPSE、4 C2D、5 aSTEM、6/7 高級(jí)EDS探測(cè)和不同的背散射探測(cè)器，如aBSD1。 — Gemini 1光學(xué)鏡筒與探測(cè)器截面示意圖

靈活探測(cè)

Sigma配備了一系列不同的探測(cè)器，通過(guò)新探測(cè)技術(shù)對(duì)您的樣品進(jìn)行表征。使用ETSE和Inlens探測(cè)器的高真空模式可獲取表面形貌的高分辨率信息。使用VPSE或C2D探測(cè)器的可變壓力模式可獲得清晰圖像。使用aSTEM探測(cè)器可進(jìn)行高分辨率透射電子成像。?采用不同的可選BSE探測(cè)器（如aBSD探測(cè)器）可以深入研究樣品的成分和表面形貌。

標(biāo)準(zhǔn)VP |模式，氣體分布（粉紅色），電子束裙邊（綠色）。

標(biāo)準(zhǔn)VP（左）和NanoVP lite（右）模式，氣體分布（粉紅色），電子束裙邊（綠色）。

NanoVP lite模式

采用NanoVP lite模式進(jìn)行分析和成像，在低電壓條件下可獲得更高的圖像質(zhì)量，更快速地獲取更準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

●　在NanoVP lite模式下，裙邊效應(yīng)降低且入射束流的路徑長(zhǎng)度（BGPL）減小。裙邊減小會(huì)提高SE和BSE成像的信噪比。

●　帶有五段圓弧的伸縮式aBSD可提供出色的材料成分襯度：在NanoVP lite工作過(guò)程中，該探測(cè)器配備了安裝在極靴下方的束流套管，其可提供高通量及低電壓的成分和表面形貌高襯度成像，適用于可變壓力和高真空條件。

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Sigma 360 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）

使用Sigma系列，暢游高端納米分析世界。

●　Sigma 360 — 一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測(cè)試平臺(tái)的理想之選。

●　Sigma 560 — 采用先進(jìn)的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可提供高通量分析，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)。

直觀成像工作流為您指引方向

★ 即使您是新手用戶，也能輕松獲得專業(yè)結(jié)果。Sigma系列可迅速獲取圖像，易于學(xué)習(xí)和使用的工作流程可節(jié)省培訓(xùn)時(shí)間，簡(jiǎn)化從導(dǎo)航到后期處理的每個(gè)步驟，讓您如虎添翼。

★ 蔡司SmartSEM Touch中的軟件自動(dòng)化可助您完成導(dǎo)航、參數(shù)設(shè)置和圖像采集等步驟。

可在1 kV和更低電壓條件下分辨差異

增強(qiáng)的分辨率，優(yōu)化的襯度

★ 光學(xué)鏡筒是成像和分析性能的關(guān)鍵。Sigma配備蔡司Gemini 1電子光學(xué)系統(tǒng)，可對(duì)任何樣品提供出色的成像分辨率，尤其是在低電壓條件下。

★ Sigma 360的低電壓分辨率目前規(guī)定500 V時(shí)為1.9nm。通過(guò)減少色差影響，已實(shí)現(xiàn)將1 kV 的分辨率提高10% 以上。

★ 現(xiàn)在成像比以往任何時(shí)候都輕松，無(wú)論是要求嚴(yán)苛的樣品，還是在可變壓力（VP）模式下采用背散射探測(cè)。

可在極端條件下完成可變壓力成像

用于分析和成像的NanoVP lite模式

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技術(shù)

Gemini 1的光學(xué)系統(tǒng)

靈活探測(cè)

NanoVP lite模式

采用NanoVP lite模式進(jìn)行分析和成像，在低電壓條件下可獲得更高的圖像質(zhì)量，更快速地獲取更準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

●　在NanoVP lite模式下，裙邊效應(yīng)降低且入射束流的路徑長(zhǎng)度（BGPL）減小。裙邊減小會(huì)提高SE和BSE成像的信噪比。

●　帶有五段圓弧的伸縮式aBSD可提供出色的材料成分襯度：在NanoVP lite工作過(guò)程中，該探測(cè)器配備了安裝在極靴下方的束流套管，其可提供高通量及低電壓的成分和表面形貌高襯度成像，適用于可變壓力和高真空條件。

應(yīng)用

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材料科學(xué)

探索聚合物、纖維、二硫化鉬等材料樣品的圖像。

生命科學(xué)

了解更多有關(guān)原生動(dòng)物或真菌的微觀和納米結(jié)構(gòu)信息，獲取切面樣品或薄片上的超微結(jié)構(gòu)。

地球科學(xué)與自然資源

探索巖石、礦石和金屬。

工業(yè)應(yīng)用

了解如何對(duì)金屬、合金和粉末進(jìn)行研究。

Sigma 360 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）

使用Sigma系列，暢游高端納米分析世界。

● Sigma 360 — 一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測(cè)試平臺(tái)的理想之選。

● Sigma 560 — 采用先進(jìn)的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可提供高通量分析，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)。

直觀成像工作流為您指引方向

★ 即使您是新手用戶，也能輕松獲得專業(yè)結(jié)果。Sigma系列可迅速獲取圖像，易于學(xué)習(xí)和使用的工作流程可節(jié)省培訓(xùn)時(shí)間，簡(jiǎn)化從導(dǎo)航到后期處理的每個(gè)步驟，讓您如虎添翼。

★ 蔡司SmartSEM Touch中的軟件自動(dòng)化可助您完成導(dǎo)航、參數(shù)設(shè)置和圖像采集等步驟。

可在1 kV和更低電壓條件下分辨差異

增強(qiáng)的分辨率，優(yōu)化的襯度

★ 光學(xué)鏡筒是成像和分析性能的關(guān)鍵。Sigma配備蔡司Gemini 1電子光學(xué)系統(tǒng)，可對(duì)任何樣品提供出色的成像分辨率，尤其是在低電壓條件下。

★ Sigma 360的低電壓分辨率目前規(guī)定500 V時(shí)為1.9nm。通過(guò)減少色差影響，已實(shí)現(xiàn)將1 kV 的分辨率提高10% 以上。

★ 現(xiàn)在成像比以往任何時(shí)候都輕松，無(wú)論是要求嚴(yán)苛的樣品，還是在可變壓力（VP）模式下采用背散射探測(cè)。

可在極端條件下完成可變壓力成像

用于分析和成像的NanoVP lite模式

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技術(shù)

Gemini 1的光學(xué)系統(tǒng)

靈活探測(cè)

NanoVP lite模式

采用NanoVP lite模式進(jìn)行分析和成像，在低電壓條件下可獲得更高的圖像質(zhì)量，更快速地獲取更準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

● 在NanoVP lite模式下，裙邊效應(yīng)降低且入射束流的路徑長(zhǎng)度（BGPL）減小。裙邊減小會(huì)提高SE和BSE成像的信噪比。

● 帶有五段圓弧的伸縮式aBSD可提供出色的材料成分襯度：在NanoVP lite工作過(guò)程中，該探測(cè)器配備了安裝在極靴下方的束流套管，其可提供高通量及低電壓的成分和表面形貌高襯度成像，適用于可變壓力和高真空條件。

應(yīng)用

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材料科學(xué)

探索聚合物、纖維、二硫化鉬等材料樣品的圖像。

生命科學(xué)

了解更多有關(guān)原生動(dòng)物或真菌的微觀和納米結(jié)構(gòu)信息，獲取切面樣品或薄片上的超微結(jié)構(gòu)。

地球科學(xué)與自然資源

探索巖石、礦石和金屬。

工業(yè)應(yīng)用

了解如何對(duì)金屬、合金和粉末進(jìn)行研究。

●　Sigma 360 — 一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測(cè)試平臺(tái)的理想之選。

●　Sigma 560 — 采用先進(jìn)的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可提供高通量分析，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)。

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●　在NanoVP lite模式下，裙邊效應(yīng)降低且入射束流的路徑長(zhǎng)度（BGPL）減小。裙邊減小會(huì)提高SE和BSE成像的信噪比。

●　帶有五段圓弧的伸縮式aBSD可提供出色的材料成分襯度：在NanoVP lite工作過(guò)程中，該探測(cè)器配備了安裝在極靴下方的束流套管，其可提供高通量及低電壓的成分和表面形貌高襯度成像，適用于可變壓力和高真空條件。

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